本实用新型公开了一种全自动石英晶片外观挑选机，旨在提供一种检测效率高的全自动石英晶片外观挑选机。本实用新型包括机台，所述机台上设置有旋转电机、振动上料盘、晶片正面检测机构、晶片反面检测机构、第一下料吹气机构、第二下料吹气机构、良品下料盘及不良品下料盘，所述旋转电机上配合设置有转盘，所述振动上料盘、所述晶片正面检测机构、所述晶片反面检测机构、所述良品下料盘及所述不良品下料盘依次配合设置在所述转盘的外部，所述第一下料吹气机构、第二下料吹气机构均位于所述转盘的上方，且分别与所述良品下料盘及所述不良品下料盘配合。本实用新型应用于石英晶片外观挑选机的技术领域。