本实用新型提供一种用于微电子半导体的电阻检测装置，包括底座，底座的上端一侧安装有支撑板，支撑板的一侧与移动装置连接，移动装置远离支撑板的一侧与顶板的一端连接，顶板的下端一侧安装有检测筒，检测筒的下端安装有检测头，底座的上端且位于支撑板的一侧安装有工作台，工作台的上端安装有固定装置，固定装置的内侧设有半导体本体，其中，移动装置包括两组滑杆，两组滑杆的上端与固定板一连接，两组滑杆的下端与固定板二连接，并且，顶板位于滑杆上且位于固定板一及固定板二之间，顶板的下端且位于两组滑杆之间设有伸缩气缸，伸缩气缸、固定板一及固定板二均位于支撑板的一侧，检测筒垂直于顶板设置，并且，检测头位于半导体本体的上方。