辐射探测装置及芯片
授权
摘要
本实用新型涉及一种辐射探测装置及芯片，通过配置有伽马射线探测探头和中子探测探头的辐射探测电路，同时完成对伽马射线或中子的探测，实现对各种粒子的探测。同时，在剂量率小于等于剂量限定值时，通过脉冲模式电路获取辐射探测电路的探测信号，其输出脉冲数与探测信号对应的粒子数相同，外部处理器计算得到探测结果；而当剂量率大于剂量限定值，会超过脉冲模式电路计数率上限，此时采用电流模式电路，将测量到的电流转换为电压，通过外部处理器计算探测结果。基于此，通过脉冲读出模式和电流读出模式协同工作，实现对辐射探测的宽量程探测。
基本信息
专利标题 ：
辐射探测装置及芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922284164.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN211554325U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
钟华强
申请人 ：
广州兰泰胜辐射防护科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市天河区科韵路78.90号201房
代理机构 ：
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
黄丽
优先权 ：
CN201922284164.2
主分类号 ：
G01T1/16
IPC分类号 ：
G01T1/16 G01T3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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