一种纳米级电容位移传感器测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及电容位移传感器技术领域，公开了一种纳米级电容位移传感器测量装置，包括传感器测量本体，传感器测量本体的两端对称固定连接有调位机构；调位机构包括螺纹管、螺纹柱、支撑杆、安装板和刻度，螺纹管的一端镶嵌在传感器测量本体的一端内，螺纹柱螺纹连接在螺纹管的内管壁上，支撑杆的一端固定连接在螺纹柱远离传感器测量本体的一端，支撑杆的另一端穿过螺纹管远离传感器测量本体的一端管口并向外延伸且与安装板的一端相连接，刻度沿水平直线方向固定设置在支撑杆的杆壁上。本实用新型可以根据需精准的对安装板移动距离做出调整，从而避免安装到相应仪器时产生间隙，提高了安装效果。
基本信息
专利标题 ：
一种纳米级电容位移传感器测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922330420.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-23
授权号 ：
CN211012826U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
肖书文文杰
申请人 ：
三英精控（天津）仪器设备有限公司
申请人地址 ：
天津市武清区开发区福源道北侧创业总部基地C21号楼
代理机构 ：
天津协众信创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王力强
优先权 ：
CN201922330420.7
主分类号 ：
G01B7/02
IPC分类号 ：
G01B7/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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