中测台用集成电路板夹持装置
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摘要
本实用新型公开了一种中测台用集成电路板夹持装置,包括由下至上依次排布的底座、承片台、探针台以及显微镜,探针台的顶壁设有检测孔,还包括安装在承片台底壁的支柱、等间距排列在支柱周壁上的支座、滑移设置在支座顶壁的调节块、位于在承片台上的抵板以及安装在底座上的气缸,气缸驱动支柱滑移至检测孔的下方,抵板上设有安装件固定在调节块的顶壁,支座上设有驱动调节块沿其轴向滑移的调节组件,若干抵板之间围合形成有夹持工件的定位空间,承片台的顶壁均布设有若干抽气孔,支柱内设有与抽气孔相连通的空腔,空腔内设有将工件固定在承片台顶壁的吸附件;该夹持装置方便、快速的对集成电路板定位,提高了检测精度和效率。
基本信息
专利标题 :
中测台用集成电路板夹持装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922370853.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-25
授权号 :
CN211577340U
授权日 :
2020-09-25
发明人 :
魏媛
申请人 :
无锡威泰集成电路测试有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新区长江路21号信息产业科技园C幢107号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922370853.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04 B25B11/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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