一种射频屏蔽测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种射频屏蔽测试装置,盖体的下端延伸形成有卡接板,卡接板的内表面设置安装有挡板,挡板的一端突出形成有挡块,箱体的外围开设有与卡接板相适配的第一卡槽,第一卡槽将箱体的外围分隔形成内侧壁和外侧壁,箱体的内侧壁开设有与挡块和挡板相适配的第二卡槽,卡接板卡接于第一卡槽内,挡块搭接于第二卡槽的底端,挡板则将第二卡槽填充铺满,由此,盖体和箱体扣合安装,两者接触良好且之间的间隙较小;通风口的设置则便于测试结束后直接打开通风,免除需提起盖体后箱体内部才能与外界通风的窘境;驱动组件的设置,则使得待测电子元件与射频测试件的距离可调,以测试获取更多的数据。

基本信息
专利标题 :
一种射频屏蔽测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922454504.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-30
授权号 :
CN211785851U
授权日 :
2020-10-27
发明人 :
姚明牛丽娟郭雅静王曦陈日亮汪梦
申请人 :
武汉珞光电子有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区武大园路8号武大科技园一号楼生产楼2楼2号218、219室
代理机构 :
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
江慧
优先权 :
CN201922454504.1
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/18  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-10-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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