一种待测MCU中DAC的精度验证电路
授权
摘要
本实用新型揭示了一种待测MCU中DAC的精度验证电路，与待测对象MCU的DAC输出相对接，其特征在于该精度验证电路为自身功能完善的成品芯片，且成品芯片内置集成有模数转换器，DAC输出信号经模数转换器处理传入成品芯片，且成品芯片中预载入设有用于DAC精度验证的数字输入信号。应用本实用新型该精度验证电路，通过直接使用功能正确的芯片与待测芯片互联，参与对DAC精度的芯片间验证，在保障精度验证结果的前提下大幅降低了操作成本，便于推广应用。
基本信息
专利标题 ：
一种待测MCU中DAC的精度验证电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922464577.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN210807229U
授权日 ：
2020-06-19
发明人 ：
李津朱建兴
申请人 ：
苏州洪芯集成电路有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区新平街388号21幢13层15单元
代理机构 ：
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 ：
姚姣阳
优先权 ：
CN201922464577.9
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10 H03M1/66
法律状态
2020-06-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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