一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法
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摘要
本发明公开了一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法，属于检测技术领域。通过对金属材料进行两次透射电镜观察的结果，对比研究金属材料的氧化过程。本发明提供的一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法，制备透射电镜样品方便，仪器简单，试验步骤简单，操作方便。
基本信息
专利标题 ：
一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111521622A
申请号 ：
CN202010280185.1
公开（公告）日 ：
2020-08-11
申请日 ：
2020-04-10
授权号 ：
CN111521622B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
于鹏飞闫志刚郑春雷
申请人 ：
燕山大学
申请人地址 ：
河北省秦皇岛市海港区河北大街438号
代理机构 ：
石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
赵小宁
优先权 ：
CN202010280185.1
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01N23/20058 G01N23/20008 G01N1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2020-09-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20200410
申请日 : 20200410
2020-08-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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