一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法
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摘要

本发明涉及一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法,属于岩石样本制样技术领域,解决现有方法工作量大、工作时间长、工作效率低的问题。岩石样本的磨平抛光夹具包括:样本卡盘、上挡板和下挡板;样本卡盘可拆卸的固定在上挡板和下挡板之间;样本卡盘旋转对称,且沿周向均布多个卡槽;卡槽填充有热塑树脂。本发明的制样方法通过采用热塑树脂使得所有岩石样本的待研磨抛光面能够近似处于同一平面上,从而减少工作时时间和工作量,提高磨平抛光的工作效率。

基本信息
专利标题 :
一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111421397A
申请号 :
CN202010307511.3
公开(公告)日 :
2020-07-17
申请日 :
2020-04-17
授权号 :
CN111421397B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
郭唯明王登红曹殿华孙艳
申请人 :
中国地质科学院矿产资源研究所
申请人地址 :
北京市西城区百万庄大街26号
代理机构 :
北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
庞立岩
优先权 :
CN202010307511.3
主分类号 :
B24B1/00
IPC分类号 :
B24B1/00  B24B41/06  B28D1/22  G01N1/28  G01N1/32  
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IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B24
磨削;抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺(用电蚀入B23H;磨料或有关喷射入B24C;电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00;磨具磨损表面的修理或调节;磨削,抛光剂或研磨剂的进给
B24B1/00
磨削或抛光的工艺;与此工艺有关的所用辅助设备
法律状态
2022-05-31 :
授权
2020-08-11 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B24B 1/00
申请日 : 20200417
2020-07-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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