一种岩石样本磨平抛光加载装置及岩石样本制样系统

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摘要

本实用新型涉及一种岩石样本磨平抛光加载装置及岩石样本制样系统，属于岩石样本制样技术领域，解决现有制样方法制样效率低、成品率低的问题。岩石样本磨平抛光加载装置包括样本卡盘、连接板、样品压块、配重组件和修盘环；样本卡盘和连接板均能够可拆卸安装于修盘环中，连接板位于样本卡盘的上方；样本卡盘设有样品安装孔；样品压块能够安装于样品安装孔内；连接板设有配重通孔，配重组件能够通过配重通孔向样品压块以及位于样品压块下方的岩石样品施加压力；采用热塑树脂将岩石样本固定在样品压块的下表面，岩石样本的待研磨抛光面与样品压块的上表面平行。本实用新型的结构简单、制样效率高、成品率高。

基本信息

专利标题：

一种岩石样本磨平抛光加载装置及岩石样本制样系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020904119.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-26

授权号：

CN212658519U

授权日：

2021-03-05

发明人：

郭唯明王登红曹殿华孙艳

申请人：

中国地质科学院矿产资源研究所

申请人地址：

北京市西城区百万庄大街26号

代理机构：

北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

庞立岩

优先权：

CN202020904119.2

主分类号：

G01N1/28

IPC分类号：

G01N1/28 G01N1/32