一种双线激光测量的标定方法及标定系统
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摘要

本发明公开了一种双线激光测量的标定方法及系统,该方法包括:夹角标定步骤和位置标定步骤;所述夹角标定步骤:获取两个线激光设备A、B对标准角度量具的测量夹角数据;根据所述测量夹角数据与所述标准角度量具的实际夹角参数的差值,完成双线激光测量的夹角标定;所述位置标定步骤:分别获取两个线激光设备A、B对标准圆柱量具的同一水平截面圆心测量的两组位置数据;根据所述两组位置数据之间的水平距离,完成双线激光测量的位置标定。该方法的操作步骤简单方便、且标定精度较高。

基本信息
专利标题 :
一种双线激光测量的标定方法及标定系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111504184A
申请号 :
CN202010322785.X
公开(公告)日 :
2020-08-07
申请日 :
2020-04-22
授权号 :
CN111504184B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
荆亮
申请人 :
荆亮
申请人地址 :
河北省廊坊市大城县平舒镇新华东街石油一处宿舍31号楼5单元4号
代理机构 :
北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
符继超
优先权 :
CN202010322785.X
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B21/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-22 :
授权
2020-09-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20200422
2020-08-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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