IGBT模块的测试方法、装置及电子设备

授权

摘要

本发明涉及电力电子器件技术领域，具体涉及一种IGBT模块的测试方法、装置及电子设备。其中，方法包括：获取IGBT模块中每个IGBT芯片的开启电压值、饱和电压值、额定电流值以及每个IGBT芯片上承受的压力值；调用IGBT模块中每一个IGBT芯片的稳态电流的计算函数，每个计算函数用于表示对应的IGBT芯片的稳态电流与所有IGBT芯片的开启电压、饱和电压、额定电流以及所有IGBT芯片上承受的压力之间的数值关系；利用IGBT模块中每个IGBT芯片的开启电压值、饱和电压值、额定电流值以及每个IGBT芯片上承受的压力值，按照计算函数计算得到IGBT模块中每个IGBT芯片的稳态电流值。本发明通过计算函数计算得到各个IGBT芯片的稳态电流，解决了IGBT模块中各个IGBT芯片稳态电流测试难度大的问题。

基本信息

专利标题：

IGBT模块的测试方法、装置及电子设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111487520A

申请号：

CN202010345768.8

公开（公告）日：

2020-08-04

申请日：

2020-04-27

授权号：

CN111487520B

授权日：

2022-04-01

发明人：

孙帅张喆吴军民金锐韩荣刚杜玉杰张西子王亮赵志斌李学宝

申请人：

全球能源互联网研究院有限公司;华北电力大学

申请人地址：

北京市昌平区未来科技城滨河大道18号

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司

代理人：

周卫赛

优先权：

CN202010345768.8

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28