一种微光学元件透射相位的检测方法

授权

摘要

本发明属于微光学元件高精度检测技术领域，具体涉及一种微光学元件透射相位的检测方法。为解决微光学元件透射相位信息的高精度检测问题。本发明采用的方法首先通过软件程序设计出微光学元件理想全息图，加载在空间光调制器上，通过计算机进行调制，将调制后的参考光路与物光干涉得到新的全息图。根据液晶空间光调制器的相位调制范围，使其作为相位补偿器，最终得到的新全息图实现了相位信息的补偿。

基本信息

专利标题：

一种微光学元件透射相位的检测方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111562089A

申请号：

CN202010386808.3

公开（公告）日：

2020-08-21

申请日：

2020-05-09

授权号：

CN111562089B

授权日：

2022-05-20

发明人：

刘丙才冯方田爱玲朱学亮王红军刘卫国

申请人：

西安工业大学

申请人地址：

陕西省西安市未央区学府中路2号

代理机构：

西安新思维专利商标事务所有限公司

代理人：

黄秦芳

优先权：

CN202010386808.3

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02 G03H1/04 G03H1/12

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01M

机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试

G01M11/02

•光学性质测试

法律状态

2022-05-20 ：

授权

2020-09-15 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200509

2020-08-21 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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