适用于光学合成孔径成像系统的离焦解耦指向校正方法
授权
摘要

本发明公开了一种适用于光学合成孔径成像系统的离焦解耦指向校正方法,可用于光学合成孔径成像系统子孔径指向的实时校正。本方法利用沿光轴方向较大尺度偏置于成像焦平面的探测器将交叠的合束光斑解耦为多个离焦子孔径光斑;分别计算每个离焦子孔径光斑的像素偏移量,将其转化为各子孔径光轴的指向偏差,控制执行机构进行相应补偿,实现光学合成孔径成像系统的实时闭环指向校正。本方法仅需一个置于长离焦面的探测器即可实现对合束光斑的解耦,相对于目前通过设计特殊光学模块分离光斑的方法,光路更加简单紧凑,不受孔径排布、孔径数量、光路结构以及系统参数等的限制,在保证同等精度前提下,具有普适性强、移植性好等优点。

基本信息
专利标题 :
适用于光学合成孔径成像系统的离焦解耦指向校正方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111638040A
申请号 :
CN202010406251.5
公开(公告)日 :
2020-09-08
申请日 :
2020-05-14
授权号 :
CN111638040B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
谢宗良马浩统史建亮罗一涵吕文仪任戈
申请人 :
中国科学院光电技术研究所
申请人地址 :
四川省成都市双流350信箱
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202010406251.5
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  G02B27/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-19 :
授权
2020-10-02 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200514
2020-09-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN111638040A.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332