一种测试和拟合力场二面角参数的方法
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摘要

本发明提供一种测试和拟合力场二面角参数的方法,产生一些具有代表性的构象,对结构进行力场和量子化学方法的比较,如符合标准,就认定力场参数表现满意,结束流程;如不符合标准,将大分子切成只含一个柔性二面角的分子碎片,进行二面角扫描,通过对每个柔性二面角的量子化学结果和力场结果对比,找出不符合标准的柔性二面角,对其参数进行拟合;得到新的二面角参数后,返回到最初产生的整个分子的一系列结构进行验证,如符合标准,结束整个流程,完成检测和拟合表现不好的二面角参数;如不符合标准,将表现不好的柔性二面角进行整个分子的二面角扫描。本发明以更低的计算资源消耗完成用大分子对力场二面角参数进行检测和拟合。

基本信息
专利标题 :
一种测试和拟合力场二面角参数的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111863140A
申请号 :
CN202010542844.4
公开(公告)日 :
2020-10-30
申请日 :
2020-06-15
授权号 :
CN111863140B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
方栋王果杨明俊马健温书豪赖力鹏
申请人 :
深圳晶泰科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区华联工业区9号4层
代理机构 :
深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)
代理人 :
胡吉科
优先权 :
CN202010542844.4
主分类号 :
G16C10/00
IPC分类号 :
G16C10/00  G16C20/50  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G16
特别适用于特定应用领域的信息通信技术
G16C
计算化学;化学信息学; 计算材料科学
G16C10/00
计算理论化学,例如特别适用于量子化学、分子力学、分子动力学等的理论方面的ICT
法律状态
2022-04-15 :
授权
2020-11-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G16C 10/00
申请日 : 20200615
2020-10-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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