多载流子体系的测试及拟合方法
授权
摘要
本发明公开了一种多载流子体系的测试及拟合方法，包括：将样品置于低温、变磁场中，测量样品的横向电导率σxx和纵向电导率σxy；对测量的σxx和σxy进行拟合运算，计算样品中各类载流子的迁移率；基于计算的样品中各类载流子的迁移率，确定样品中各类载流子的浓度ni。采用本发明，可以获得相对准确的材料电学参数信息，能够提升探测器结构的设计能力，并且通过指导工艺，优化材料中各导电类型的载流子浓度及迁移率，降低器件的暗电流，提升探测器组件的性能。
基本信息
专利标题 ：
多载流子体系的测试及拟合方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110927458A
申请号 ：
CN201911094739.2
公开（公告）日 ：
2020-03-27
申请日 ：
2019-11-11
授权号 ：
CN110927458B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
胡尚正折伟林吴卿陈慧卿刘铭田震杨海燕刘兴新周立庆
申请人 ：
中国电子科技集团公司第十一研究所
申请人地址 ：
北京市朝阳区酒仙桥路4号
代理机构 ：
工业和信息化部电子专利中心
代理人 ：
张然
优先权 ：
CN201911094739.2
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02 G01N27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2020-04-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/02
申请日 : 20191111
申请日 : 20191111
2020-03-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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