一种基于比特错误率的闪存错误页比例评估模型及方法
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摘要

本发明公开了一种基于比特错误率的闪存错误页比例评估模型及方法。闪存错误页比例可为固态硬盘性能和功耗优化提供基础,但直接获取错误页比例需要巨大的时间和空间开销,导致错误页比例难以直接评估。而闪存的比特错误率获取十分方便,开销极低。因此本发明提供一种通过对闪存进行特性分析,测试获取闪存比特错误率及错误页比例相关数据,并建立闪存比特错误率与错误页比例关联关系模型,最终用闪存比特错误率来近似估计错误页比例的模型及方法。本发明对固态硬盘的性能提升、功耗降低及相关工业应用具有重大意义。

基本信息
专利标题 :
一种基于比特错误率的闪存错误页比例评估模型及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111863110A
申请号 :
CN202010650488.8
公开(公告)日 :
2020-10-30
申请日 :
2020-07-08
授权号 :
CN111863110B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
李礼吴佳陈佳刘碧贞
申请人 :
上海威固信息技术股份有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区高泾路599号1幢2层208室
代理机构 :
上海海贝律师事务所
代理人 :
王文锋
优先权 :
CN202010650488.8
主分类号 :
G11C29/44
IPC分类号 :
G11C29/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
G11C29/44
错误指示或识别,例如,修复
法律状态
2022-04-29 :
授权
2020-11-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/44
申请日 : 20200708
2020-10-30 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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