闪存装置、闪存控制器及闪存存储管理方法
授权
摘要
本发明公开了一种闪存装置和闪存存储管理方法,所述闪存存储管理方法包括:提供闪存模块,所述闪存模块包括多个单层单元数据区块以及多层单元数据区块;将欲写入的数据分类为多个数据群;分别执行单层单元数据写入以及执行类似容错式磁盘阵列错误更正编码操作产生对应的校验码,以将所述多个数据群以及所述对应的校验码写入至所述多个单层单元数据区块;当完成所述多个单层单元数据区块的写入时,执行内部复制,将所述多个单层单元数据区块所存储的所述多个数据群以及所述对应校验码,依所述多个单层单元数据区块存储顺序,依序写入至所述多层单元数据区块。只需使用极低数据空间作为存储相对应错误更正校验码之用,闪存数据空间使用效率更高。
基本信息
专利标题 :
闪存装置、闪存控制器及闪存存储管理方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111710358A
申请号 :
CN202010384012.4
公开(公告)日 :
2020-09-25
申请日 :
2017-04-26
授权号 :
CN111710358B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
杨宗杰许鸿荣
申请人 :
慧荣科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹县
代理机构 :
深圳新创友知识产权代理有限公司
代理人 :
江耀纯
优先权 :
CN202010384012.4
主分类号 :
G11C29/42
IPC分类号 :
G11C29/42 G11C29/44 G11C11/56 G11C16/10 G06F3/06 G06F11/10 G06F12/02 G06F12/0804 G11C16/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-06-03 :
授权
2020-10-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/42
申请日 : 20170426
申请日 : 20170426
2020-09-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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