基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备

授权

摘要

本发明提供了一种基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备，该方法包括：获取第一温度的待测件在第一波长下的第一探测值、以及在第二波长下的第二探测值，确定第一探测比；获取第二温度的待测件在第一波长下的第三探测值、以及在第二波长下的第四探测值，确定第二探测比；基于第一探测比和第二探测比确定第一求解系数，基于第一求解系数确定第二求解系数；获取未知当前温度的待测件在第一波长下的第五探测值、以及在第二波长下的第六探测值，确定第三探测比，基于第一求解系数、第二求解系数以及第三探测比确定待测件的当前温度。本发明提供的基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备能够提高温度测量精度。

基本信息

专利标题：

基于光热反射的温度测量方法、装置及终端设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112097950A

申请号：

CN202010849570.3

公开（公告）日：

2020-12-18

申请日：

2020-08-21

授权号：

CN112097950B

授权日：

2022-06-10

发明人：

刘岩翟玉卫田秀伟王秀海吴爱华

申请人：

中国电子科技集团公司第十三研究所

申请人地址：

河北省石家庄市合作路113号

代理机构：

石家庄国为知识产权事务所

代理人：

秦敏华

优先权：

CN202010849570.3

主分类号：

G01K11/00

IPC分类号：

G01K11/00