积分球开口处反射比测量方法和漫反射比的绝对测量方法
授权
摘要
本发明涉及光学领域，提供积分球开口处反射比测量方法和漫反射比的绝对测量方法。积分球开口处反射比测量方法，包括：S01、获取两个半径不同、内壁反射比相同的积分球的开口面积比；S02、采用光谱光度测量装置测量两个积分球的光谱相对信号；S03、确定由两个积分球的光谱相对信号和两个积分球的开口面积比表示的内壁反射比；S04、确定由两个积分球的光谱相对信号和两个积分球的开口面积比表示的开口处的反射比。该种积分球开口处反射比测量方法，通过对两个积分球的光谱相对信号分别进行测量，得到由两个积分球的光谱相对信号表示的开口处的反射比，其可以降低测量过程中对于积分球表面均匀度的要求，从而提高测量精度。
基本信息
专利标题 ：
积分球开口处反射比测量方法和漫反射比的绝对测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110954508A
申请号 ：
CN201911304782.7
公开（公告）日 ：
2020-04-03
申请日 ：
2019-12-17
授权号 ：
CN110954508B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
马宇轩冯国进郑春弟吴厚平张巧香赫英威甘海勇
申请人 ：
中国计量科学研究院
申请人地址 ：
北京市朝阳区北三环东路18号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴欢燕
优先权 ：
CN201911304782.7
主分类号 ：
G01N21/47
IPC分类号 ：
G01N21/47 G01N21/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射，即漫反射
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-05-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/47
申请日 : 20191217
申请日 : 20191217
2020-04-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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