掩模开口尺寸测量方法、掩模版拉伸装置以及张网机
授权
摘要

本发明实施例公开了一种掩模开口尺寸测量方法、掩模版拉伸装置以及张网机。该掩模开口尺寸测量方法包括:对当前进行拉伸的掩模版进行图像采集,形成当前图像采集结果,所述掩模版包括掩模开口;基于所述当前图像采集结果,确定所述掩模版上当前所述掩模开口的几何中心;基于当前所述掩模开口的几何中心,计算当前所述掩模开口的尺寸,以有效判断当前掩模版上的掩模开口的尺寸是否达到预设值。

基本信息
专利标题 :
掩模开口尺寸测量方法、掩模版拉伸装置以及张网机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112648920A
申请号 :
CN201910967774.4
公开(公告)日 :
2021-04-13
申请日 :
2019-10-12
授权号 :
CN112648920B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
肖蓉邓帅飞李运锋周许超
申请人 :
上海微电子装备(集团)股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1525号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
孟金喆
优先权 :
CN201910967774.4
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G03F1/44  H01L21/033  H01L21/66  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-24 :
授权
2021-04-30 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20191012
2021-04-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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