一种SAR滑动聚束模式方位去斜方法
授权
摘要
一种SAR滑动聚束模式方位去斜方法。方法包括：根据成像时间内的每个SAR方位时刻的轨道六根数、卫星姿态角以及天线扫描角，确定每个方位时刻对应的多普勒频率；根据每个方位时刻对应的多普勒频率，确定成像时间内的多普勒历程；根据多普勒历程，确定成像时间内的相对距离历程；根据相对距离历程，确定方位去斜函数；将回波信号与方位去斜函数相乘，以对回波信号进行方位去斜。本发明提供的方位去斜方法不依赖虚拟转动点，可以解决大方位扫描角滑动聚束模式虚拟转动点模型失效的问题，同时可以精确去除波束方位扫描引起的多普勒混叠。
基本信息
专利标题 ：
一种SAR滑动聚束模式方位去斜方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111983612A
申请号 ：
CN202010874366.7
公开（公告）日 ：
2020-11-24
申请日 ：
2020-08-26
授权号 ：
CN111983612B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
黄丽佳孟大地李莹莹胡玉新仇晓兰韩冰仲利华尹迪
申请人 ：
中国科学院空天信息创新研究院
申请人地址 ：
北京市海淀区北四环西路19号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
孙蕾
优先权 ：
CN202010874366.7
主分类号 ：
G01S13/90
IPC分类号 ：
G01S13/90
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2020-12-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 13/90
申请日 : 20200826
申请日 : 20200826
2020-11-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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