一种圆周聚束模式干涉SAR测高方法
公开
摘要
本发明属于雷达微波干涉测量技术领域，具体涉及一种圆周聚束模式干涉SAR测高方法。本发明利用合成孔径雷达常用的线性调频信号的回波信号进行分析，建立圆周聚束模式下干涉测高模型，根据空间立体几何关系构建四面体模型，推导目标高程反演公式，公式除干涉相位外，其他参数均是由雷达参数决定的常数，不涉及复杂的计算操作，实现方式也较为简单。
基本信息
专利标题 ：
一种圆周聚束模式干涉SAR测高方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609633A
申请号 ：
CN202210263135.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李晋曹雨欣徐浩典余雷闵锐皮亦鸣杨晓波崔宗勇
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新西区西源大道2006号
代理机构 ：
成都点睛专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孙一峰
优先权 ：
CN202210263135.1
主分类号 ：
G01S13/90
IPC分类号 ：
G01S13/90 G01S7/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
