一种基于负热膨胀效应的柔性光电探测器及其制备方法
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摘要
本发明公开了一种基于负热膨胀效应的柔性光电探测器及其制备方法，涉及光电探测领域。所述一种基于负热膨胀效应的柔性光电探测器包括自下而上依次设置的基板、柔性衬底、半透明导电电极层、电子传输层、掺杂具有负热膨胀效应的反钙钛矿结构材料的活性层、空穴传输层、金属电极层。反钙钛矿结构材料使活性层具有在一定的温度条件下，温度升高厚度会变窄的性能，及具有负热膨胀效应，通过控制外部温度调控活性层厚度从而达到控制探测波长的功能，且制备方法简单高效，适用于规模化生产。
基本信息
专利标题 ：
一种基于负热膨胀效应的柔性光电探测器及其制备方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111883667A
申请号 ：
CN202010887401.9
公开（公告）日 ：
2020-11-03
申请日 ：
2020-08-28
授权号 ：
CN111883667B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
黄江贾晓伟李娜刘泽宇
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 ：
谢建
优先权 ：
CN202010887401.9
主分类号 ：
H01L51/46
IPC分类号 ：
H01L51/46 H01L51/44 H01L51/42 H01L51/48
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-11-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 51/46
申请日 : 20200828
申请日 : 20200828
2020-11-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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