一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置及其测温方法
授权
摘要

本发明是一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置及其测温方法,用于测量高温背景下的物体表面的温度。本发明涉及辐射测温技术领域,本发明提供一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置,所述装置包括高温计、辐射探测器、恒温炉、冷却腔、冷气进入管、冷气出口管、热电偶和热电偶采集卡;本发明为了更准确测量高温环境中物体表面的温度,首先利用BP网络自适应寻找发射率模型,通过预先对网络训练,使网络对于高温背景下辐射光谱数据具有高度的识别度,之后对光谱曲线进行分类进而准确地输出对应地发射率模型。确定发射率模型后,对求解温度的遗传算法进行了一定的改进。最终整套测温方法在测量高温环境中物体的温度上表现出了良好的性能。

基本信息
专利标题 :
一种基于自适应发射率模型的多光谱测温装置及其测温方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112113666A
申请号 :
CN202010895227.2
公开(公告)日 :
2020-12-22
申请日 :
2020-08-31
授权号 :
CN112113666B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
高山孙尚陈立伟赵春晖王超姜晶
申请人 :
哈尔滨工程大学
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号
代理机构 :
哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司
代理人 :
张宏威
优先权 :
CN202010895227.2
主分类号 :
G01J5/00
IPC分类号 :
G01J5/00  G01J5/52  G06K9/62  G06N3/04  G06N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2022-06-03 :
授权
2021-01-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/00
申请日 : 20200831
2020-12-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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