一种射线直接数字成像检测低曝光量标准参数确定方法

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摘要

本发明涉及基建技术领域，特别涉及一种射线直接数字成像检测低曝光量标准参数确定方法。该方法包括：加工制作工艺试验标定块、选用检测设备和材料、射线机工作准备、设置检测透照方法、设置DR检测系统、布置检测标记和像质计、工艺参数试验和生成标准工艺参数图。本发明提供的射线直接数字成像检测低曝光量标准参数确定方法，通过生成DR低曝光量标准工艺参数连续拟合图，可以快速准确的查找或计算各种厚度焊缝DR检测的标准工艺参数，有效提高DR检测质量和检测工效，降低检测曝光量，提高射线作业安全性。

基本信息

专利标题：

一种射线直接数字成像检测低曝光量标准参数确定方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112557423A

申请号：

CN202010964127.0

公开（公告）日：

2021-03-26

申请日：

2020-09-15

授权号：

CN112557423B

授权日：

2022-05-17

发明人：

陈剑刘家发单忠斌董利苹赵洪元

申请人：

中国石油天然气集团有限公司;大庆石油管理局有限公司;大庆油田建设集团有限责任公司

申请人地址：

北京市东城区东直门北大街9号中国石油大厦

代理机构：

大庆知文知识产权代理有限公司

代理人：

马微

优先权：

CN202010964127.0

主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01N23/04