大米品质检测方法、设备以及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种大米品质检测方法、设备以及存储介质。其中，大米品质检测方法包括：采集米粒的图像，记为第一图像，其中，第一图像为RGB图像；对第一图像进行预处理，得到第二图像；获取第一图像中各像素点的红色值和蓝色值；根据第一图像中各像素点的红色值和蓝色值，以及第二图像确定米粒的所属类别，其中，所属类别包括黃粒米或垩白米。该大米品质检测方法，可以针对具体的大米生产加工任务，实现对米粒的所属类别进行判断，从而判断大米的品质。
基本信息
专利标题 ：
大米品质检测方法、设备以及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486877A
申请号 ：
CN202011149529.1
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-10-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朱邵成范二荣常宏井长龙李法虎
申请人 ：
合肥美亚光电技术股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新技术产业开发区望江西路668号
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周红
优先权 ：
CN202011149529.1
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01N15/00 G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20201023
申请日 : 20201023
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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