检测方法及检测装置、设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

一种检测方法及检测装置、设备和存储介质,所述方法通过获取待检测图像,对所述待检测图像执行识别处理,获取所述待检测图像中满足相应阈值条件的像素点作为缺陷像素点,并基于所述缺陷像素点,获取所述待检测图像中存在的缺陷点。由于所采用的相应阈值条件与像素点在所述待检测图像中的位置相关,也即所述相应阈值条件随着所述待检测图像中的像素点所在位置进行变化,与采用固定的阈值条件相比,可以避免因阈值条件设置不合理所导致的误检和漏检情形的发生,相应能够更好地区分噪点和缺陷点,进而可以提高检测的准确性。

基本信息
专利标题 :
检测方法及检测装置、设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114387249A
申请号 :
CN202210032703.7
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-01-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈鲁李艳波佟异张嵩
申请人 :
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 :
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
郭学秀
优先权 :
CN202210032703.7
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/60  G06T7/70  G06V10/74  G06V10/764  G06K9/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220112
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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