一种判断位错滑移类型的方法
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摘要

一种判断滑移类型的方法,具体为:先制备EBSD块状样品,通过EBSD标定晶体取向,并使用不同载荷的维氏硬度压头对EBSD测定的晶粒进行原位压缩;由于压缩变形后该取向晶粒就会发生变形,进而在晶粒的表面形成滑移线;对要测定区域的不同晶粒进行硬度测试,结合压痕的几何应力分析,计算不同滑移开动时的Schmid因子值;然后通过滑移线和三维晶体结构进行对比,结合位错滑移线的传播方向,所计算的不同滑移系的Schmid因子值以及滑移线之间相互交叉的角度,初步判断滑移类型;最后在扫描电镜上,通过倾转扫描样品台,记录不同角度倾转时滑移台阶的宽度变化,结合EBSD测定的晶体取向,获得理论上不同滑移类型的台阶宽度变化,然后与实验结果相对比,综合判断出滑移类型。

基本信息
专利标题 :
一种判断位错滑移类型的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112611661A
申请号 :
CN202011370476.6
公开(公告)日 :
2021-04-06
申请日 :
2020-11-30
授权号 :
CN112611661B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
李阁平张英东袁福森韩福洲阿里.穆罕穆德郭文斌任杰刘承泽顾恒飞佟敏
申请人 :
中国科学院金属研究所
申请人地址 :
辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
代理机构 :
沈阳晨创科技专利代理有限责任公司
代理人 :
张晨
优先权 :
CN202011370476.6
主分类号 :
G01N3/42
IPC分类号 :
G01N3/42  G01N3/06  G01N23/20  G01N23/20058  G01N23/203  G01N23/20008  G01N23/2251  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/40
测试硬度或回弹硬度
G01N3/42
用压头在稳定载荷下压印,例如球形压头,棱锥形压头
法律状态
2022-04-12 :
授权
2021-04-23 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 3/42
申请日 : 20201130
2021-04-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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