基于双环反馈改进单区量子点锁模激光器锁模性能的方法
公开
摘要
本发明提供了一种基于双环反馈改进单区量子点锁模激光器锁模性能的方法，用于改善单区量子点锁模激光器的锁模性能，包括以下步骤：步骤1，将单区量子点锁模激光器的输出端通过棱镜光纤连接到光耦合器的a端口；步骤2，光延迟线、第一偏振控制器、基于光纤的偏振光束分束器以及第二偏振控制器构成外部反馈环路后通过c、d端口与光耦合器连接；步骤3，断开单区量子点锁模激光器与光耦合器的连接，通过光谱仪观测并通过光电探测器和电谱仪分析并计算得到RF线宽；步骤4，将单区量子点锁模激光器与光耦合器进行连接，b端口连接光电探测器和电谱仪观测RF线宽，通过调节外部反馈环路的长度以及调节第一偏振控制器与第二偏振控制器来降低RF线宽。
基本信息
专利标题 ：
基于双环反馈改进单区量子点锁模激光器锁模性能的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114583551A
申请号 ：
CN202011372533.4
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-11-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
焦哲晶
申请人 ：
上海电力大学
申请人地址 ：
上海市杨浦区平凉路2103号
代理机构 ：
上海德昭知识产权代理有限公司
代理人 ：
郁旦蓉
优先权 ：
CN202011372533.4
主分类号 ：
H01S5/065
IPC分类号 ：
H01S5/065 H01S5/068 H01S5/0683
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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