下伏灰质地层干涉的薄层厚度定量预测方法
公开
摘要

本发明提供一种下伏灰质地层干涉的薄层厚度定量预测方法,该方法包括:地震正演模拟,定量分析下伏灰质地层对薄层砂岩的地震干涉特征;通过实钻砂体厚度统计,确定所述薄层砂岩的优势调谐频率;地震分频处理,提取所述优势调谐频率下的最佳地层切片组合;实钻井厚度约束,建立分频切片融合公式;利用所述分频切片融合公式,对灰质干涉下的薄层厚度进行定量预测。本发明在地震正演模拟分析基础上,优选了消除下伏灰质地层干涉影响的地层切片组合,并在实钻厚度约束下,建立了薄层厚度定量公式,显著提高了薄层厚度预测精度,可在无法开展叠前地震反演情况下,消除下伏灰质地层干涉影响,实现薄层厚度定量预测。

基本信息
专利标题 :
下伏灰质地层干涉的薄层厚度定量预测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114594514A
申请号 :
CN202011420611.3
公开(公告)日 :
2022-06-07
申请日 :
2020-12-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
宋亮苏朝光巴素玉张盼盼王楠张秀娟张鹏
申请人 :
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司物探研究院
申请人地址 :
山东省东营市东营区北一路210号
代理机构 :
东营双桥专利代理有限责任公司
代理人 :
侯华颂
优先权 :
CN202011420611.3
主分类号 :
G01V1/30
IPC分类号 :
G01V1/30  G01V1/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V1/00
地震学;地震或声学的勘探或探测
G01V1/28
地震数据的处理,例如,分析、用于解释、用于校正
G01V1/30
分析
法律状态
2022-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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