基于显微测量的成像传感器像面平行度调试系统及方法
授权
摘要

本发明涉及成像传感器的装调方法,具体涉及基于显微测量的成像传感器像面平行度调试系统及方法,以解决现有成像传感器像面平行度调试时,存在直接测量法会划伤或损坏保护玻璃,且调试精度差,而成像测量法的离焦像质模糊不利于准确计算,且工作量大的技术问题。调试系统包括偏心仪气浮平台、四维调整台、辅助工装、偏心仪成像显微镜和千分表;待调试传感器组件安装在所述四维调整台上,偏心仪成像显微镜设置在待调试传感器组件的正上方。基于上述调试系统的调试方法包括:偏心仪气浮平台调平;将待调试传感器组件的安装法兰调平;用偏心仪成像显微镜测试成像传感器三点的数值,计算偏差值;根据偏差修正垫柱的厚度。

基本信息
专利标题 :
基于显微测量的成像传感器像面平行度调试系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112781841A
申请号 :
CN202011643159.7
公开(公告)日 :
2021-05-11
申请日 :
2020-12-30
授权号 :
CN112781841B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
贾乃勋吴璀罡解来运卢振华王清龙孙雪琪栾超王曦邵雷
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所;北京控制与电子技术研究所
申请人地址 :
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
王少文
优先权 :
CN202011643159.7
主分类号 :
G01M11/04
IPC分类号 :
G01M11/04  G01M11/02  G01B11/26  G01B5/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/04
••其光学实验台
法律状态
2022-05-20 :
授权
2021-05-28 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/04
申请日 : 20201230
2021-05-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332