一种Mini/MicroLED常温老化测试仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种Mini/MicroLED常温老化测试仪，包括机箱，所机箱包括机壳、测试机构以及产品移动机构，所述测试机构和产品移动机构设置在机壳内，所述机壳内部两侧设有支撑架，所述产品移动机构设置在支撑架上，所述测试机构位于产品移动机构上方，所述测试机构与产品移动机构之间设置有遮光板，所述机壳内部位于测试机构的两侧设有两个升降电机，两个升降电机输出端与测试机构连接，通过测试机构的针块pcb板向产品灯片传输检测数据，对其进行快速老化和测试，然后通过传感pcb板对产品灯板每个Mini/MicroLED进行感光检测，并以数据的形式反馈到信号源机或PC端；本实用新型不仅检测效率高，且针对每个Mini/MicroLED进行精密的单独测试，提高了产品检测质量。
基本信息
专利标题 ：
一种Mini/MicroLED常温老化测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020015782.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-06
授权号 ：
CN211786018U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
张凯
申请人 ：
韦森特(东莞)科技技术有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市塘厦镇四村高科工业二路4号2号楼202室
代理机构 ：
东莞技创百科知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
邱凯
优先权 ：
CN202020015782.7
主分类号 ：
G01R31/44
IPC分类号 ：
G01R31/44 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/44
•测试灯
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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