一种划片机Z轴光栅检验装置
授权
摘要
本实用新型属于检测设备技术领域，公开了一种划片机Z轴光栅检验装置，包括：主体框架、触摸屏、工业控制计算机、设备空开、内部元件和Z轴安装底座；主体框架分为上层框架与下层框架；触摸屏设置在上层框架上，上层框架的内部设置内部元件；设备空开设置在下层框架上，下层框架的内部设置工业控制计算机；内部元件包括：控制卡、步进电机驱动器和开关电源；控制卡与步进电机驱动器分别通过信号线连接待检验Z轴中的步进电机，开关电源通过电线连接待检验Z轴中的步进电机；控制卡、步进电机驱动器、开关电源、触摸屏与工业控制计算机分别通过电线连接设备空开；Z轴安装底座与下层框架固定。
基本信息
专利标题 ：
一种划片机Z轴光栅检验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020079905.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-15
授权号 ：
CN211292031U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
朴宇张明明周健宇刘宏文胡泊
申请人 ：
沈阳和研科技有限公司
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市皇姑区步云山路53号
代理机构 ：
沈阳晨创科技专利代理有限责任公司
代理人 ：
张晨
优先权 ：
CN202020079905.3
主分类号 ：
G01M99/00
IPC分类号 ：
G01M99/00 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M99/00
本小类其他组中不包括的技术主题
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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