一种时钟发生电路和测试机
授权
摘要
本实用新型提供了一种时钟发生电路和测试机，其电路包括：低频时钟信号输入模块，用于接入测试机产生的低频时钟信号；时钟信号转换模块，用于将所述低频时钟信号转换为预设高频时钟信号；高频时钟信号输出模块，用于将所述预设高频时钟信号提供给待测晶圆，以便所述测试机对所述待测晶圆进行测试。本实用新型根据需要提供符合待测晶圆的时钟信号，满足芯片测试需求。
基本信息
专利标题 ：
一种时钟发生电路和测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020352506.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-19
授权号 ：
CN212159999U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
梁建罗雄科
申请人 ：
上海泽丰半导体科技有限公司
申请人地址 ：
上海市徐汇区田州路159号15单元1302室
代理机构 ：
上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭桂峰
优先权 ：
CN202020352506.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G06F1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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