一种X-射线荧光光度仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种X‑射线荧光光度仪，包括光度仪主壳体，所述光度仪主壳体的上端面安装有密封遮光顶板，所述光度仪主壳体的两侧均安装有散热板，所述光度仪主壳体的中间安装有动力元件保护壳体，所述动力元件保护壳体的上方安装有样品放置平台，所述样品放置平台与动力元件保护壳体的中间均匀设置有若干个电动推杆，所述样品放置平台的上方安装有连接端盖，所述连接端盖与样品放置平台的中间均匀安装有若干个支撑立柱。本实用新型通过安装有密封遮光顶板、遮光内板、电磁铁和磁铁棒可以在设备进行开启时，对内部的发出X‑射线的灯管或其他光源进行封闭，避免操作人员的身体直接接触射线，造成伤害，结构简单、操作方便。
基本信息
专利标题 ：
一种X-射线荧光光度仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020401441.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-26
授权号 ：
CN211785236U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
范萍
申请人 ：
广州优越检测技术服务有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市南沙区环市大道南2号南沙资讯科技园软件南楼101、102、103
代理机构 ：
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李迪
优先权 ：
CN202020401441.3
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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