中、长波热红外双谱段非制冷型成像装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种中、长波热红外双谱段非制冷型成像装置,主要用于探测高温事件,系统包括第一凹面反射镜、凸面反射镜、第二凹面反射镜、空气狭缝、凹球面反射镜、凸球面光栅和非制冷探测器;凸球面光栅为双闪耀光栅;中长波红外光束平行入射至第一凹面反射镜上,依次经过第一凹面反射镜、凸面反射镜和第二凹面反射镜的反射进入空气狭缝,之后经凹球面反射镜的第一次反射后会聚至凸球面光栅并分光,获得发散光束,发散光束返回至凹球面反射镜并经凹球面反射镜第二次反射,成像于焦平面上,非制冷探测器设置在焦平面上,光谱仪结构紧凑、成本低,目标信号能够被有效提取。
基本信息
专利标题 :
中、长波热红外双谱段非制冷型成像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020419268.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-27
授权号 :
CN211824764U
授权日 :
2020-10-30
发明人 :
朱晓晓朱嘉诚沈为民
申请人 :
苏州大学
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区石湖西路188号
代理机构 :
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张荣
优先权 :
CN202020419268.X
主分类号 :
G01J5/08
IPC分类号 :
G01J5/08 G01J5/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
G01J5/08
光学特征
法律状态
2020-10-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN211824764U.PDF
PDF下载