一种漏光测试治具
授权
摘要
本实用新型提供了一种漏光测试治具，属于一种检测设备，其包括可相互扣合的上盖和下盖，下盖开设有用于放置待测产品的容置槽，容置槽的底面设有光源，容置槽内设有光源接收装置；当上盖和下盖相互扣合时，容置槽为一个密封环境；解决了现有的漏光测试仪器所占空间大，并且不便于携带，无法满足即时地外出测试情况的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种漏光测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020429423.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN211786168U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
刘鹏
申请人 ：
深圳市卓翼智造有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区燕罗街道塘下涌社区塘下涌第二工业大道149号1号厂房整套、2-3号厂房及宿舍一、宿舍二;在燕罗街道塘下涌社区同富路10号厂房D栋(1-5楼)设有经营场所从事生产经营活动
代理机构 ：
深圳市深可信专利代理有限公司
代理人 ：
刘昌刚
优先权 ：
CN202020429423.6
主分类号 ：
G01V8/12
IPC分类号 ：
G01V8/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V8/00
用光学装置勘探或探测
G01V8/10
探测，例如，用光垒
G01V8/12
用一个发射器和一个接收器
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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