一种标准件样品的测试治具
授权
摘要

本实用新型公开了一种标准件样品的测试治具,包括支撑板,支撑板上可拆卸地设有用于定位标准件样品的定位架,定位架包含定位板和四根连接在定位板底部的支撑柱,所述的定位板上设有多组用于定位标准件样品的定位孔,四根支撑柱呈梯形分布,四根支撑柱的底部分别设有容纳槽A,每一所述的容纳槽A内设有磁体A,所述的支撑板上设有与四个容纳槽A一一对应的容纳槽B,每一所述的容纳槽B内设有磁体B,通过四个磁体A和四个磁体B的一一对应且相互吸附,将定位架吸附在支撑板上;操作人员在拆装的时候可以准确的放置到正确的位置,避免放错;同时通过四个磁体A和四个磁体B的一一对应且相互吸附,使得定位架能迅速的拆卸,能提高测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种标准件样品的测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020483640.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-03
授权号 :
CN211955277U
授权日 :
2020-11-17
发明人 :
范真
申请人 :
深圳市禾苗分析仪器有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福永街道福宁高新产业园公寓楼308
代理机构 :
深圳市辉泓专利代理有限公司
代理人 :
孟强
优先权 :
CN202020483640.3
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-11-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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