一种快速空间反射率分布测量装置

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摘要

本实用新型公开一种快速空间反射率分布测量装置，包括外罩，样品台，待测样品，一个或以上的照明光源，及成像测量装置，其中，外罩的内表面设有漫反射涂层；待测样品放置在样品台上；外罩上设置有一个或以上的入射窗口；照明光源的光束通过入射窗口照射待测样品，并经待测样品反射至外罩的内表面；成像测量装置靠近样品台设置，且成像测量装置的视场角部分或全部覆盖照明光源经待测样品反射后在外罩的内表面形成的像。通过成像测量装置对待测样品受照明光源照射后在外罩内表面的像进行拍摄，来快速获得待测样品在各个方位角的反射值，不仅可以避免多方位测量定位精度的影响，同时也大大提高了测量效率。

基本信息

专利标题：

一种快速空间反射率分布测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020533015.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-13

授权号：

CN211927696U

授权日：

2020-11-13

发明人：

潘建根李倩沈思月

申请人：

远方谱色科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市萧山区萧山经济技术开发区红垦农场垦辉六路739号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020533015.5

主分类号：

G01N21/55

IPC分类号：

G01N21/55 G01N21/01