测量高反射率的方法和装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明是在光谱光度计上加对称球面谐振腔多次反射装置而形成的测量镜面高反射率的方法和装置。对称球面谐振腔放在可定位旋转180°的转动圆盘上，高反射率是通过公式求得。本方法对测量样品放置精度要求不高。测量高反射率最佳方案可采用对称双光路结构。
基本信息
专利标题 ：
测量高反射率的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85101719A
申请号 ：
CN85101719.3
公开（公告）日 ：
1986-08-13
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN1006089B
授权日 ：
1989-12-13
发明人 ：
王占青陈奋飞周秀良
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市斯大林大街112号
代理机构 ：
中国科学院长春专利事务所
代理人 ：
刘树清
优先权 ：
CN85101719.3
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
1993-07-28 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-08-15 ：
授权
1989-12-13 ：
审定
1986-08-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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