一种复用CCD的双光路分光光度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种复用CCD的双光路分光光度测量装置，包括：光源、一分二光纤、准直系统、样品池、会聚系统、分光系统以及CCD探测器；其中，光源发出的光经过所述一分二光纤分为两路光：测量光以及参考光；测量光依次经过准直系统、样品池、会聚系统以及分光系统后，照射在CCD探测器的像元上；参考光直接照射在CCD探测器的像元上；CCD探测器用于接收测量光的像元与用于接收参考光的像元彼此不重复。本实用新型的复用CCD的双光路分光光度测量装置，提高了对物质定性与定量分析的检测精度，减小了系统体积。
基本信息
专利标题 ：
一种复用CCD的双光路分光光度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020585196.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-20
授权号 ：
CN212432972U
授权日 ：
2021-01-29
发明人 ：
黄梅珍李婉香汪晨希张超逸
申请人 ：
上海交通大学
申请人地址 ：
上海市闵行区东川路800号
代理机构 ：
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
徐红银
优先权 ：
CN202020585196.6
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2021-01-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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