膜边测厚装置

授权

摘要

本实用新型涉及一种膜边测厚装置，包括测厚支架，该测厚支架上开设有供膜通过的通道，在所述通道两侧的测厚支架上分别安装有一支撑机构，两个支撑机构沿通道对称设置，且与所述的通道相对应；在接近通道处的测厚支架上还安装有测厚机构，该测厚机构位于其中一支撑机构的内侧。本实用新型的优点是：（1）上位移传感器和下位移传感器采用滚轮式接触，通过上位移传感器和下位移传感器的位移变化量测量，不会损伤膜片，测量结果更加精准。（2）通过调节支架灵活调节，上位移传感器和下位移传感器可以在左右方向及上下方位移动，满足不同厚膜材料的膜边测厚需求。

基本信息

专利标题：

膜边测厚装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020658572.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-27

授权号：

CN212058703U

授权日：

2020-12-01

发明人：

杨牧李维能

申请人：

钛科优控（江苏）工业科技有限公司

申请人地址：

江苏省南通市高新技术产业开发区金江大道8号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020658572.X

主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

G01B21/08