光电导量测系统
授权
摘要
本申请公开了一种光电导量测系统，通过多功能电表提供固定电流或固定电压予待测物；信号采集装置采集待测物在黑暗环境中的暗电流或暗电压；光路装置导引脉冲激光光束至黑暗环境中，使脉冲激光光束照射于待测物；信号采集装置采集待测物在脉冲激光光束照射时的电信号，以取得光电导反应曲线；以及计算装置接收并依据光电导反应曲线与暗电流或暗电压取得待测物的光电导灵敏度、反应时间与载子活期。因此，光电导量测系统可测得待测物的光电导灵敏度、反应时间与载子活期，并可提供极广且极高的时间解析能力。
基本信息
专利标题 ：
光电导量测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020723685.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-06
授权号 ：
CN212622846U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
陈瑞山杨纮玮樊政轩何沁蓉刘芳辰
申请人 ：
陈瑞山
申请人地址 ：
中国台湾台北市大安区基隆路四段43号
代理机构 ：
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
南霆
优先权 ：
CN202020723685.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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