一种波纹管组件的氦质谱检漏装置
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摘要

一种波纹管组件的氦质谱检漏装置,它包括有待检测的波纹管组件,O型密封圈、波纹管内支撑块、上下密封法兰,技术要点是:上密封法兰的外圆卡在波纹管组件的上法兰内侧的台阶处,该上密封法兰与波纹管内支撑块的边沿处设有上O型圈,上密封法兰的连接螺钉与波纹管内支撑块相连接,所述支撑块内还带有波纹管内腔通道;波纹管组件上法兰上设置有侧向漏孔,该侧向漏孔与波纹管组件内腔相连通;在支撑块下部套装有下密封法兰,该下密封法兰外边沿通过下O型圈设置于下法兰上的环型凹槽内。本装置的设计完全满足了带侧向漏孔的波纹管组件的密封性检漏要求。波纹管内腔通道与下法兰上的波纹管内腔抽真空通道对应,就可以进行真空氦质谱检漏了。

基本信息
专利标题 :
一种波纹管组件的氦质谱检漏装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020784418.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-13
授权号 :
CN212030845U
授权日 :
2020-11-27
发明人 :
张秀华宋林红张文良张大林关长江于翔麟王雪王记兵邢卓马志承徐大鹿孟多南戴洋孙志涛
申请人 :
沈阳仪表科学研究院有限公司
申请人地址 :
辽宁省沈阳市大东区北海街242号
代理机构 :
沈阳科威专利代理有限责任公司
代理人 :
杨滨
优先权 :
CN202020784418.7
主分类号 :
G01M3/22
IPC分类号 :
G01M3/22  F16J15/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
G01M3/04
通过在漏泄点检测流体的出现
G01M3/20
应用特殊示踪物质,例如染料、荧光材料、放射性材料
G01M3/22
用于管、缆或管状物;用于管的连接或密封;用于阀门
法律状态
2020-11-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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