一种用于提高激光测距精度的多点投影装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于提高激光测距精度的多点投影装置,属于激光测距技术领域;其包括激光测距装置,激光测距装置内部设有数据处理单元、信号控制单元、激光发射单元、激光接收单元、光学扫描单元和光学接收单元,光学扫描单元包括准直透镜组、光束多点调制模组和模组控制器,准直透镜组设置在激光发射单元的输出端,将激光发射单元散射出的激光光束转换为平行光束,光束多点调制模组设置在准直透镜组的输出端,将上述平行光束转化为一定角度的光束,模组控制器分别电连接信号控制单元和光束多点调制模组,用于调整光束多点调制模组射出光束的角度;本实用新型的目的在于解决现有技术中激光测距装置测距不准的问题,提高测距精度。

基本信息
专利标题 :
一种用于提高激光测距精度的多点投影装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020827998.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-18
授权号 :
CN212483855U
授权日 :
2021-02-05
发明人 :
刘夏罗斯特刘冬山侯俊科蒋科强
申请人 :
深圳市慧视智图科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区松岗街道广田路118号联合石材工业园A6
代理机构 :
深圳市友邦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王玲玲
优先权 :
CN202020827998.3
主分类号 :
G01S17/08
IPC分类号 :
G01S17/08  G01S7/481  G01S7/4865  G03B21/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2021-02-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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