一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统,通过瞄准激光组件依次调节所述伽马滤片堆栈谱仪模块、所述电子‑质子谱仪模块以及所述多辐射源角分布测量模块,使得所述多辐射源角分布测量模块、所述电子‑质子谱仪模块、所述伽玛滤片堆栈谱仪模块和所述瞄准激光组件发射的激光同轴;采用本实用新型所提供的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统,可实现对多辐射源的透射激光角分布、质子、电子角分布和能谱以及伽玛射线能谱等物理量的同时同轴测量,并且排除了激光发次的抖动以及不同测量角度的影响,获得了更加关联和精准的物理量数据,对于理解激光靶物理过程具有重要意义。

基本信息
专利标题 :
一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020929999.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-28
授权号 :
CN212275989U
授权日 :
2021-01-01
发明人 :
滕建邓志刚齐伟王为武于明海单连强田超张天奎张锋袁宗强
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市919信箱986-6分箱
代理机构 :
北京高沃律师事务所
代理人 :
杜阳阳
优先权 :
CN202020929999.9
主分类号 :
G01T1/36
IPC分类号 :
G01T1/36  G01T1/29  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2021-01-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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