具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆
授权
摘要
本实用新型公开了具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆，杆头本体包括微操纵结构和探针，操纵结构包括形变机构、伸缩机构以及设置为球形重力块结构的惯性传感机构，形变机构通过伸缩机构和探针连接；形变机构的压电陶瓷片组的每对压电陶瓷贴对称固定贴设在基底底座的侧壁上，基底底座的底部设置有压电陶瓷片；伸缩机构的滑块b和垫片同步沿着滑块a的轴线方向相对滑动。除了能对指定位置进行物性测量外，还可以充当三维纳米操纵手，在TEM内实现两根纳米线的原位焊接、实验样品的原位压缩、原位制备异质结等精确操作。该整体结构设计可实现操纵的分辨率提高，且有利于增加设备使用寿命。
基本信息
专利标题 ：
具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020944865.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-29
授权号 ：
CN212277149U
授权日 ：
2021-01-01
发明人 ：
许智
申请人 ：
安徽泽攸科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省铜陵市经济技术开发区高新技术创业服务中心D号楼101号
代理机构 ：
北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡剑辉
优先权 ：
CN202020944865.4
主分类号 ：
H01J37/20
IPC分类号 ：
H01J37/20 H01J37/26 H01J37/28
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管，例如为了对其检验或加工的
H01J37/02
零部件
H01J37/20
物体或材料的支承或定位装置；与支架相联的光阑或透镜的调整装置
法律状态
2021-01-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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