一种透射电镜原位电学样品杆
授权
摘要
本实用新型提供了一种透射电镜原位电学样品杆,包括样品杆本体、手握柄和真空电学接头、导线,所述真空电学接头位于手握柄尾部,具有电学测量设备接口,样品杆本体设置在手握柄上,所述样品杆本体前端设有样品杆杆头,样品杆杆头上设有电学测量用的芯片载台和薄膜芯片,所述的薄膜芯片位于芯片载台上;本实用新型的有益效果是:通过薄膜芯片实现加热功能,通过样品杆的降温通路实现降温,最大程度地实现了材料的温度调节功能。薄膜芯片才用多电极结构,能够准确测量不同温度下材料的电学信号。
基本信息
专利标题 :
一种透射电镜原位电学样品杆
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921394003.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-26
授权号 :
CN210514128U
授权日 :
2020-05-12
发明人 :
王义林秦姗
申请人 :
镇江乐华电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省镇江市句容市宝华镇仙林东路16号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921394003.2
主分类号 :
G01N23/02
IPC分类号 :
G01N23/02 G01N23/20025
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2020-05-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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