一种手持式X荧光光谱仪用测试架
授权
摘要

本实用新型涉及X荧光光谱仪技术领域,具体涉及一种手持式X荧光光谱仪用测试架,包括测试座和侧板,测试座的顶部右侧前后两侧对称设有侧板,前后两侧侧板的上部对称插接有轴承座,轴承座内安装有丝杠,本实用新型提供了一种手持式X荧光光谱仪用测试架,通过一系列结构的设计和使用,本实用新型在进行使用过程中,避免了通过手动调节的方式进行定位固定的目的,达到到了操作便捷、省时省力的优点,同时在对手持式X荧光光谱仪进行定位固定时可以较好的对加紧力进行调节,避免对手持式X荧光光谱仪造成损伤,进而提高了手持式X荧光光谱仪用测试架的实用性。

基本信息
专利标题 :
一种手持式X荧光光谱仪用测试架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021136748.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-18
授权号 :
CN212568553U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
袁海军顾惠惠马建州顾德安
申请人 :
无锡创想分析仪器有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市梁溪区新惠路12号9号楼
代理机构 :
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨立秋
优先权 :
CN202021136748.1
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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